产品参数 | |||
---|---|---|---|
品牌 | 中图仪器 CHOTEST | ||
规格 | 900×700×604㎜ | ||
加工定制 | 否 | ||
测量精度 | 0.1nm | ||
外形尺寸 | 900×700×604㎜ | ||
数量 | 10 | ||
影像系统 | 100万~400万像素可选 | ||
Z轴行程 | 100mm,电动 | ||
Z向扫描范围 | 10mm | ||
Z向分辨率 | 0.01nm | ||
可测样品反射率 | 0.05-100 | ||
粗糙度RMS重复性 | 0.005nm | ||
电源 | 100-240VAC | ||
50/60Hz | |||
4A | |||
可售卖地 | 全国 | ||
用途 | 微纳米三维形貌一键测量 | ||
型号 | SuperViewW1 |
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产品参数 | |||
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品牌 | 中图仪器 CHOTEST | ||
规格 | 900×700×604㎜ | ||
加工定制 | 否 | ||
测量精度 | 0.1nm | ||
外形尺寸 | 900×700×604㎜ | ||
数量 | 10 | ||
影像系统 | 100万~400万像素可选 | ||
Z轴行程 | 100mm,电动 | ||
Z向扫描范围 | 10mm | ||
Z向分辨率 | 0.01nm | ||
可测样品反射率 | 0.05-100 | ||
粗糙度RMS重复性 | 0.005nm | ||
电源 | 100-240VAC | ||
50/60Hz | |||
4A | |||
可售卖地 | 全国 | ||
用途 | 微纳米三维形貌一键测量 | ||
型号 | SuperViewW1 |