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QFN28-0.35-3*3测试座0091TGH用于芯片烧录老炼功能测试

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产品价格: 258.00/人民币 
最后更新: 2024-11-12 09:00:16
产品产地: 广东深圳
发货地: 广东深圳 (发货期:当天内发货)
供应数量: 不限
有效期: 长期有效
最少起订: 1
浏览次数: 4
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    产品详细说明
    产品参数
    型号QFN28-0.35-3*3-0091TGH
    封装/规格插件
    间距0.35
    总针脚数28
    圆孔/方孔圆孔
    触头镀层
    工作温度范围-45~155℃
    包装盒装
    认证机构CE
    最小包装量1
    数量1
    封装QFN
    批号以出货为准
    用途老炼老化测试
    应用场景与老化板配合
    芯片尺寸3*3
    品牌ANDK

    QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片测试座
    1.引脚:28 signal Pin 1 GND;
    2.间距:0.35mm
    3.尺寸:3*3mm
    4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
    5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
    6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
    7.Temperature:-45~155℃
    8.Current Rating:1A Max.



    测试座侧视图




    测试座顶部视图,实际结构以图纸为准



    测试座顶部视图,实际结构以图纸为准



    测试座底部视图,实际结构以图纸为准




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