SY.62-SD-LE手持式合金分析仪是世界第一台配置了硅漂移探测器（SDD）的手持X射线荧光光
谱仪，能量分辨率高达140eV，计数率可达100kcps，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能在
空气模式下，无需真空够或氦气冲洗即可测量铝合够或氦气冲洗即可测量铝合金中的AI，Mg，
Si，钛合金中的AI以及钢材中的Si、S、P。为航空航天、核工业、军工、汽车等行业的材质无
损分析的提供了理想工具。
同时SY.62-SD-LE也是当前全球艺术和环境保护科学家的首选仪器，在采矿业，土壤研究，玩
具制造等领域都有特殊的应用。硬件和软件的超强功能及灵活性，加上无可匹敌的应用支持，
科学家们得到的不仅是手持式仪器的便利，更重要的是能获得实验室级仪器的测量精度。
独特优势
l 能够分析AI、Mg、Si
l 可编辑用户数据库
l 测量元素范围可低至Mg(12)
l 微软实时系统软件（MS CE）提供图谱分析
l 高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素
l PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的无素测量。
l 无真空，无氦气消耗，精度可靠。
技术参数：
重量：1.5kg
尺寸：30cm*10cm*28cm
分析元素：Ti-U加AI、Mg、Si
激发源：X射线管，Ag靶
语言：12种语言（包括中文，用户自选）
检测器：硅漂移检测器（SDD），检测速度快，分辨率高，145eV，计数率：100Keps
操作系统：HP掌上电脑：Windows Mobile 5.0
Bruker专用软件
冷却系统：Peltier恒温冷却系统，保证仪器的使用寿命和精度
电源：可交、直流供电，充电锂电池，可连续工作6-8小时
电池充电器：交流交电器，110/220V，50/60HZ
显示器：240*320彩显；65536像素；背景光可调，触摸屏
测量模式：牌号识别，定量分析，显示测量谱线，合格与否判定
数据传输：USB 存储卡，蓝牙
数据存储：主机：512MB
存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据。
高温测量：热表面适配器，可测量500℃高温样品
安全：密码保护，设有多级安全锁
运输：减震、抗压、防水、密封仪器箱
仪器箱颜色：银色和橙色（可选）
质保期：2年
环境范围：-10℃—50℃
应用领域：
1. 石油化工
2.锅炉压力容器
3.航空航天
4.机械制造与加工
5.军工
6.金属回收与分类
7. 钢铁
8.贵金属
9.电站电厂
10.玩具
11.矿石
12.环保质量
13.土壤
14.其它
