HORIBA台式X射线荧光光谱仪XGT-1000WR,日本HORIBA台式X射线荧光光谱仪XGT
-1000WR
分析元素: Si～U(Cd/Pb高精度型)；Na～U(测量孔径：φ1.2 mm/φ0.1 mm切换
方式型)
检测精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm
检测仓内部尺寸：最大460×360 mm(高150 mm)
X射线照射径：φ1.2 mm(可选：φ1.2 mm / φ0.1 mm 切换)
一次X射线滤色镜: 5元素同时分析用(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)、 Cd专用/Cr，Cl专
用/P用(无滤色镜)等最多4种自动切换(可选项)
检测器：脉冲管无液体氮检测器(1100WR)、氮冷却型3L(1000WR)均为高纯度Si
检测器
光学像：用倍率50倍观察(同轴)、样品整体像(可选项)
分析功能
(1) 定性：自动定性功能、BG显示、ROI分类、匹配功能
(2) 定量：FPM定量、标准曲线定量、有害元素定量(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)(Cl修正
、厚度修正、线缆修正)、测定功能缩短功能
(3) 测定序列：可一键完成条件设定→测定→定量分析
(4) 多层膜：多层膜FPM(可选项)
电源：AC100 V、120 V、220 V、240 V ±10％、50/60 Hz
消耗电力：1.3 kVA以下(XGT-1000WR)、2.3 kVA以下(XGT-1100WR)
装置质量：约200 ㎏(XGT-1000WR)、约290 ㎏(XGT-1100WR)
设备重量：约 265 kg(不含桌子、计算机)
外形尺寸：分析部分：610(W)×750(D)×500(H)mm
信号处理部：220(W)×500(D)×480(H)mm
标准配置：CCD同轴摄像机、13个标有标准含量的标准样品、维护专用样品、计
算机、打印机、稳压电源、测量液体粉末粒子用的备件、液氮杯、漏斗
