TEM 测角研磨器
TEM楔入式抛光器用于制备电子显微镜观察用的薄样品。非旋转测微头用于消除多余的平面。
凸轮锁紧夹具手柄（无需辅助工具），可快速、方便的固定、移除样品，以及精确的配置抛光程序
特点：
l 轻巧的电镀铝结构耐腐蚀度高
l 凸轮锁控制杆可以根据操作员的需要在左右两边自由安装
l 手柄不影响大多数显微镜的观察
Item |
Descrtption |
69-50000 |
Cross-Sectioning Tool Kit |
截面夹具
适用于截断小的样品、未封装的样品，如IC或其他的电子设备。 手动的固定工具设计独特，能保证样品的稳定性，平衡性，以及保证样品的低重心，防止样品在抛光期间晃动。可以进行抛光平面的角度校正，横截面手柄采用凸轮锁紧系统，可快速灵活的移动，方便样品的观察和抛光程序的设置 。
特点：
l 轻巧的电镀铝结构耐腐蚀度高
l 凸轮锁控制杆可以根据操作员的需要在左右两边自由安装
l 手柄不影响大多数显微镜的观察
l 铝制横截面手柄适用于多数扫描电镜观察，而不必卸下样品
69-30010 |
Feet, Teflon™ (Pk/2) |
