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当前位置: 首页 » 供应产品 » 工控 » 工业传感器 »劳易测 Leuze electronic 槽型光电传感器系列

劳易测 Leuze electronic 槽型光电传感器系列

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产品价格: 700/人民币 
最后更新: 2012-08-10 14:14:28
产品产地: 德国
发货地: 东莞 (发货期:当天内发货)
供应数量: 不限
有效期: 长期有效
最少起订: 1
浏览次数: 491
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  • 公司基本资料信息
    • 东莞市中昊机电设备有限公司
    • 杨淑娟小姐 商务经理
    • 会员[试用会员产品]
    • 邮件332114016@qq.com
    • 手机13620425260
    • 电话
    • 传真
    • 地址东莞市南城区鸿福路口92号中环财富广场1312
    • 进入商铺
     
    产品详细说明

    劳易测 Leuze electronic 槽型光电传感器系列 

    型号:GK14  GK06 GSU06  GSU14

     

    Forked
    photo
    electric
    sensors
    GK 14
    GSU 06, 14(B)
    GS 06, 21 GS 04
    GSL 04
    GS 754 GS 61
    (I)GS 63
    Forked photo electric sensors GK 14, GSU 06, 14 Forked photo electric sensors GS 06, 10, GS 12, 21 Forked photo electric sensors GS 04, GSL 04 Forked photo electric sensors GS 754 Forked photo electric sensors GS 61/63
    Specifications
             
    Dimens. excluding plug,
    W x H x D, mm
          19 x 81,5 x 91,5 60x30x11
    80x30x11
    Operating voltage 10 - 30 V DC 10 - 30 V DC 10 - 30 V DC 18 - 30 V DC 10 - 30 V DC
    Switching outputs PNP, NPN PNP, NPN
    push-pull
    PNP, NPN PNP, RS 232,
    RS 422, F, V
    push-pull
    Connection M 12, M 8,
    cable
    M 12, M 8,
    cable
    M 8 M 12 M 8, cable
    Approvals

    (submittedt)
    Protection class IP 65 IP 65 IP 65 IP 54 IP 65
    Housing metal metal metal metal metal/plastic

    Throughbeam photo electric sensorsThroughbeam photo electric sensors

    Type selection Product details Product details Product details Product details Product details
    Mouth width (mm) 1/2,5/4 2/5/8 30/50/80/
    120/220
    29 3
    Light source - infrared redlight infrared  
    Switching light/dark light/dark   light/dark,
    measuring
    light/dark
    Switching frequency 5000/500 Hz 1000/8000/
    800 Hz
    1500 Hz max. 50 Hz 10000 Hz
    Options
    Teach-In  
    Other options detection of
    transparent +
    paper labels
    detection of
    paper labels
    detection of
    small objects
    Contour measurement (max. 6), Diameter analysis, Detection of broken objects, Position analysis  

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