广州纳米硅激光粒度分析,尺寸分析
广东省工业分析检测中心是我国从事金属材料、冶金产品、化工产品、再生资源质量检测、欧盟环保（RoHS）指令的有害物质检测、金属材料综合利用检测与咨询、评价以及分析测试技术研究的专业机构。广州纳米硅激光粒度分析,尺寸分析
广州纳米硅激光粒度分析,尺寸分析中心始建于1971 年，先后隶属于广州有色金属研究院、广东省工业技术研究院（广州有色金属研究院），2015年12月经广东省机构编制委员会批准成为广东省科学院属下的独立二级事业法人单位。
EDS可以用来测量：元素的定性分析，可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素；元素的定量分析，根据能谱图中光电子谱线强度（光电子峰的面积）反应原子的含量或相对浓度；固体表面分析，
广州纳米硅激光粒度分析,尺寸分析
技术参数：
| 基本规格 | 蔡司 GeminiSEM 300 | 日本电子JEM-2100F | ||
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热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h |
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加速电压 |
0.02 - 30 kV | 200KV | ||
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探针电流 |
3 pA - 20 nA |
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（100 nA配置可选） |
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存储分辨率 |
高达32k × 24k 像素 |
点：0.19nm 晶格:0.10nm;扫描透射:0.20nm |
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放大倍率 |
12 – 2,000,000 | 1,500,000,误差≤±10% | ||
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标配探测器 |
镜筒内Inlens二次电子探测器 |
Tenupol-5电解双喷减薄仪 | ||
| 样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器 | PIPS II 695 精密离子减薄仪 | |||
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IsoMet4000精密切割机 | ||
样品要求：
参考标准：
测试步骤：
将样品进行表面镀铂金后，放入扫描电子显微镜样品室中，使用15 kV的加速电压对测试位置进行放大观察，并用X射线能谱分析仪对样品进行元素定性半定量分析。
非磁性或弱磁性，不易潮解且无挥发性的固态样品，小于8CM*8CM*2CM。
GB/T 17359-2012微束分析 能谱法定量分析
单位名称：广东省工业分析检测中心
单位性质：独立法人事业单位，广东省科学所属骨 干研究所
发展历史：1971~2020，48年发展历史
业务范围：华南地区最大的金属、矿物及新材料专业
检测机构
人员结构：80余人，高级职称以上人员超过40%；
装备条件：实验室面积4500平方米，仪器设备300余 台，总价值4000余万元
详情咨询：刘工(项目经理)
联系电话：18707738103
