荧光光谱测金机(仪器厂家负责人喻奉波先生，百度搜索人名，找到作者联系方式就能以团购优惠价购买仪器)利用光的色散、吸收、散射等现象得到与被分析物质有关的光谱，从而对物质成分、结构进行分析、测量的物理光学仪器。仪器其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。
简介
荧光光谱测金机(仪器厂家负责人喻奉波先生，百度搜索人名，找到作者联系方式就能以团购优惠价购买仪器)利用光的色散、吸收、散射等现象得到与被分析物质有关的光谱，从而对物质成分、结构进行分析、测量的物理光学仪器。仪器其构造由一个入射狭缝，一个色散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。
性能特点
专业的贵金属等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
EXF系列光谱测金机图片电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
元素分析范围:从钠(Na)至铀(U)
元素含量分析范围:1ppm-99.99%
同时分析元素:24种元素同时分析
检测限:RoHS指令规定的有害元素(Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限达1ppm
测量镀层:镀层厚度测量最薄至0.005微米，可分析11层以上的镀层
分析精度:0.05% (96%以上)
测量对象状态:粉末、固体、液体
测量时间:60s-200s
工作温度:15℃-30℃
工作湿度:≤70%
工作电压:AC 110V/220V
标准配置
高效超薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
应用领域
贵金属检测
钢铁和有色金属检测
RoHS检测
