二、技术参数
1、可测元素：Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Zr、Nb、Mo、Hf、W、Ta、Re、Pb、Ag、Sn、Bi、Sb等25种，Mg、Al、Si、P、S，Delte-X便携式光谱仪所配置的标准元素还可以增加或更换。
2、广泛应用于铁合金、铜合金、铝合金、铜铁合金、铅锡合金等金属成份的定量分析以及现场的快速材料鉴定和分拣。
3、规格标准：尺寸300×100×280mm/1.5公斤；
4、X射线管：40KV/4W的银靶；
5、探测器：XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高/145eV, 计数率/100 kcps；
6、操作系统：HP掌上电脑，Windows Mobile5.0 Bruker 专用软件；
7、冷却系统：Peltier半导体冷却系统；
8、电源： 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时；
9、工作条件：湿度范围-20℃～+55℃，湿度范围0～95%；
10、电池充电器：交流充电器：110/220V，50/60Hz；
11、计算机/显示器：240x320彩显，65,536像素，背景光可调，触摸屏；
12、测量模式：牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定；
13、样品表面温度：使用热表面适配器，最高可测500℃高温件；
14、数据传输：USB，无线蓝牙，SD卡；
15、数据存储：主机、512MB存储卡、CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据。
